功率器件芯片：如何測量芯片優劣

本期文章由上海藤谷電子科技有限公司講解如何測芯片功率器件芯片功率器件芯片優劣

如何測量功率器件芯片優劣：
1.?查驗MCU是不是毀壞或flash無法打開，是換塊新的芯片試一下。

2.?查驗供電系統：立即用萬用表測量VCC和GND的脈沖信號，是不是符合規定。假如VCC偏移9V或3.3V過多，查驗7805或別的穩壓管、低通濾波器的輸出。

3.?查驗晶振電路……?這一我不知道怎么檢查晶振電路優劣，我的方式較為土：一般是多換好多個晶振電路通電試一下，總之石英晶振不值得很多錢。
 
4.?查驗RESET腳位脈沖信號邏輯性，留意常用型號是上拉電阻校準還是低電頻校準的，假如MCU一直處在不斷被校準情況，呵呵呵，結果顯而易見。智能電子秤方案

5.?假如設計方案時，程序流程是以拓展的外界ROM運行的，還需查驗EA腳。

以上就是上海藤谷電子科技有限公司對如何測量芯片功率器件芯片優劣簡單講解，我司依托科研院所，從事半導體集成電路設計開發，電子元器件，功率器件相關芯片，陶瓷覆銅板的研發與應用，以及相關半導體設備，材料的技術支持，銷售。